
清(qīng)空(kōng)記(jì)录(lù)
曆史記(jì)录(lù)
取(qǔ)消
清(qīng)空(kōng)記(jì)录(lù)
曆史記(jì)录(lù)

2020年(nián)7月(yuè)18日(rì),一(yī)场(chǎng)别開(kāi)生(shēng)面(miàn)的芯片測試培訓会(huì),在(zài)杭州矽力傑大(dà)廈拉開(kāi)序幕,本(běn)次(cì)培訓由(yóu)上海(hǎi)頂策科技(Top-ictest)。針(zhēn)对(duì)矽力傑新(xīn)入(rù)職的測試工程师(shī),結合矽力傑公(gōng)司實(shí)際情(qíng)況,傾力打(dǎ)造的一(yī)场(chǎng)定(dìng)制化(huà)專業培訓,總(zǒng)共8天(tiān)课程,为不(bù)耽誤大(dà)家(jiā)正(zhèng)常上班(bān)时間(jiān),培訓特(tè)地(dì)安(ān)排在(zài)進(jìn)行,內(nèi)容涵蓋了(le)芯片測試開(kāi)發(fà)的全(quán)部(bù)內(nèi)容。從基礎的半導體(tǐ)产業鍊(liàn)講起(qǐ),測試基本(běn)概念,測試專業名(míng)词(cí)解(jiě)釋,測試原理(lǐ),产品datasheet講解(jiě),參數意(yì)義及(jí)測試方(fāng)法(fǎ),到具體(tǐ)的測試項目開(kāi)發(fà),包(bāo)括測試方(fāng)案(àn)的制定(dìng),測試原理(lǐ)图(tú)、PCB(loadboard)設計(jì)制作(zuò),測試程序(test program)開(kāi)發(fà),測試調試(debug),验(yàn)证,數據(jù)分(fēn)析等。再加上經(jīng)验(yàn)技巧的傳授等全(quán)流程,系(xì)統化(huà)測試培訓。參加培訓後(hòu)的同(tóng)學(xué)们(men),大(dà)呼过(guò)瘾,收(shōu)獲甚多(duō)。

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